1.单探头法

　　使用一个探头兼作发射和接收超声波探伤仪 的 探伤方法称为单探头法。单探头法操作方便，大多数缺陷可以检出，是目前最常用的一种方法。单探头法探伤，对于与波束轴线垂直的片状缺陷和立体型缺陷的检出 效果最好。与波束轴线平行的片状缺陷难以检出。当缺陷与波束轴线倾斜时，则根据倾斜角度的大小，能够受到部分回波或者因反射波束金部反射在探头之外而无法 检出。

　　2.双探头法

　　使用两个探头(一个发射，一个接收)进行探伤仪 探伤的方法称为双探头法。主要用于发现单探头法难以检缝的缺陷。 双探头又可根据两个探头排列方式和工作方式进一步分为并列式、交叉式、V型串列式、K型串列式、串列式等。

　　(1)并列式：两个探头并列放置，探伤时两者作同步向移动。但直探头作并列放置时，通常是一个探头固定，另一个探头移动，以便发现与探测面倾斜的缺陷。分割式探头的原理，就是将两个并列的探头组合在一起，具有较高的分辨能力和信噪比，适用与薄试件、近表面缺陷的探伤。

　　(2)交叉式：两个探头轴线交叉，交叉点为要探测的部位，此种探伤方法可用来发现与探测面垂直的片状缺陷，在焊缝探伤中，常用来发现横向缺陷。

　　(3)V型串列式;两探头相对放置在同一面上，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波刚好落在另一个探头的入射点上。此种探伤方法主要用来发现与探测面平行的片状缺陷。

　　(4)K型串列式：两探头以相同的方向分别放置于试件的上下表面上。一个探头发射的声缺陷反射，反射的回波进入另一个探头。此种探伤方法主要用来发现与探测面垂直的片状缺陷。

　　(5)串列式：两探头一前一后，以相同方向放置在同一表面上，一个探头发射的声波被缺陷反射的回波，经底面反射进入另一个探头。此种探伤方法用来发现与探测面垂直的片状缺陷(如厚焊缝的中间未焊透)。两个探头在一个表面上移动，操作比较方便，是一种常用的探测方法。

　　3.多探头法

　　使用两个以上的探头成对地组合在～起进行探伤仪 探伤的方法，称为多探头法。多探头法的应用，主要是通过增加声束来提高探伤速度或发现各种取向的缺陷。通常与多通道仪器和自动扫描装置配合。